Nondestructive detection of defects in ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Nondestructive detection of defects in materials using microwaves
Auteur(s) :
Glay, David [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur] refId
Mamouni, A. [Auteur]
Leroy, Y. [Auteur]
Date de début de la manifestation scientifique :
2000
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the SPIE - International Society for Optical Engineering, 4129
Éditeur :
SPIE – The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, USA
Date de publication :
2000
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL