Titre :

Investigation of traps in AlGaN/GaN HEMTs by current transient spectroscopy

Auteur(s) :

Gassoumi, M. [Auteur]
Bluet, J.M. [Auteur]
Chekir, F. [Auteur]
Dermoul, I. [Auteur]
Maaref, H. [Auteur]
Guillot, G. [Auteur]
Minko, A. [Auteur]
Hoel, Virginie [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la revue :

Materials Science and Engineering: C

Pagination :

SI : 383-386

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2006

ISSN :

0928-4931

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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