Titre :

Hydrogen passivation and local electron-beam reactivation of silicon dopants in GaAs characterized by differential conductance and STM spectroscopy measurements

Auteur(s) :

Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Silvestre, S. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Bernard, Dorothee [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Constant, E. [Auteur]
Chevallier, C. [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

11th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, Spectroscopy and Related Techniques, STM 2001

Ville :

Vancouver

Pays :

Canada

Date de début de la manifestation scientifique :

2001

Date de publication :

2001

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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