Titre :

Caractérisation non destructive d'un profil d'humidité à 2.45 GHz et technique de déconvolution aveugle associée

Auteur(s) :

Glay, David [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Titre de l’ouvrage :

Actes des 13èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2003

Éditeur :

Institut d'Electronique, Microélectronique et Nanotechnologie, Villeneuve d'Ascq, France

Date de publication :

2003

Langue :

Français

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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