High frequency noise of SOI MOSFETs : ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
High frequency noise of SOI MOSFETs : performances and limitations
Auteur(s) :
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Siligaris, A. [Auteur]
Iniguez, B. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Titre de la manifestation scientifique :
SPIE Fluctuations and Noise Conference, Noise in Devices and Circuits III
Ville :
Austin, TX
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2005
Date de publication :
2005
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL