Titre :

Effect of curvature on interfacial segregation: Electronic contribution to the point defect/interface binding energy

Auteur(s) :

Vasseur, Jérôme [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Acoustique - IEMN [ACOUSTIQUE - IEMN]
Deymier, P. [Auteur]

Titre de la revue :

Interface Science

Pagination :

147-152

Éditeur :

Springer Verlag

Date de publication :

1994-06

ISSN :

0927-7056

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]
Physique [physics]

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL