Terahertz detection by GaN/AlGaN transistors
Type de document :
Article dans une revue scientifique: Article original
DOI :
Titre :
Terahertz detection by GaN/AlGaN transistors
Auteur(s) :
El Fatimy, Abdelouahad [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Boubanga Tombet, Stephane [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Teppe, Frederic [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Knap, Wojciech [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Veksler, D. B. [Auteur]
Rumyantsev, S. [Auteur]
Shur, M. S. [Auteur]
Pala, N. [Auteur]
Gaska, R. [Auteur]
Fareed, Q. [Auteur]
Hu, X. [Auteur]
Seliuta, D. [Auteur]
Valusis, G. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cappy, Alain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Boubanga Tombet, Stephane [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Teppe, Frederic [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Knap, Wojciech [Auteur]
Groupe d'étude des semiconducteurs [GES]
Veksler, D. B. [Auteur]
Rumyantsev, S. [Auteur]
Shur, M. S. [Auteur]
Pala, N. [Auteur]
Gaska, R. [Auteur]
Fareed, Q. [Auteur]
Hu, X. [Auteur]
Seliuta, D. [Auteur]
Valusis, G. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cappy, Alain [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Electronics Letters
Pagination :
1342-1344
Éditeur :
IET
Date de publication :
2006
ISSN :
0013-5194
Mot(s)-clé(s) en anglais :
FIELD-EFFECT TRANSISTORS
RESONANT DETECTION
SUB-TERAHERTZ
PLASMA-WAVES
RADIATION
RESONANT DETECTION
SUB-TERAHERTZ
PLASMA-WAVES
RADIATION
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Résumé en anglais : [en]
Detection of subterahertz and terahertz radiation by high electron mobility GaN/AlGaN transistors in the 0.2-2.5 THz frequency range (much higher than the cutoff frequency of the transistors) is reported. Experiments were ...
Lire la suite >Detection of subterahertz and terahertz radiation by high electron mobility GaN/AlGaN transistors in the 0.2-2.5 THz frequency range (much higher than the cutoff frequency of the transistors) is reported. Experiments were performed in the temperature range 4-300 K For the lowest temperatures, a resonant response was observed. The resonances were interpreted as plasma wave excitations in gated two-dimensional electron gas. Non-resonant detection was observed at temperatures above 100 K. Estimates for noise equivalent power show that these transistors can be used as efficient detectors of terahertz radiation at cryogenic and room temperatures.Lire moins >
Lire la suite >Detection of subterahertz and terahertz radiation by high electron mobility GaN/AlGaN transistors in the 0.2-2.5 THz frequency range (much higher than the cutoff frequency of the transistors) is reported. Experiments were performed in the temperature range 4-300 K For the lowest temperatures, a resonant response was observed. The resonances were interpreted as plasma wave excitations in gated two-dimensional electron gas. Non-resonant detection was observed at temperatures above 100 K. Estimates for noise equivalent power show that these transistors can be used as efficient detectors of terahertz radiation at cryogenic and room temperatures.Lire moins >
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :