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Highly sensitive resistive SThM probes for ...
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Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/78629
Title :
Highly sensitive resistive SThM probes for nanoscale thermometry
Author(s) :
Swami, Raul [Auteur]
Institut Néel [NEEL]
Paterson, Jessy [Auteur]
Institut Néel [NEEL]
Singhal, Druv [Auteur]
Institut Néel [NEEL]
Julié, Gwennaëlle [Auteur]
Institut Néel [NEEL]
Le-Denmat, Simon [Auteur]
Institut Néel [NEEL]
Motte, Jean-François [Auteur]
Nanofabrication [NEEL - Nanofab]
Alkurdi, Ali [Auteur]
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon [CETHIL]
Yin, Jun [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Robillard, Jean-François [Auteur]
Microélectronique Silicium - IEMN [MICROELEC SI - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hamaoui, Georges [Auteur]
Electronique, Systèmes de communication et Microsystèmes [ESYCOM]
Chapuis, Pierre-Olivier [Auteur]
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon [CETHIL]
Gomès, Séverine [Auteur]
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon [CETHIL]
Bourgeois, Olivier [Auteur]
Institut Néel [NEEL]
Thermodynamique et biophysique des petits systèmes [NEEL - TPS]
Conference title :
Eurotherm 114: Nanoscale and Microscale Heat Transfer VII
City :
Palermo
Country :
Italie
Start date of the conference :
2022-05-29
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
ANR Project :
Pointes hautement sensibles pour la microscopie thermique à l'échelle nanométrique
Comment :
Oral in session S4: Scanning thermal microscopy
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Submission date :
2022-11-22T03:56:51Z
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