Full field chemical imaging of buried ...
Type de document :
Article dans une revue scientifique
URL permanente :
Titre :
Full field chemical imaging of buried native sub-oxide layers on doped silicon patterns
Auteur(s) :
de la Peña, Francisco [Auteur]
Barrett, N. [Auteur]
Zagonel, L.F. [Auteur]
Walls, Michael [Auteur]
Renault, O. [Auteur]
Barrett, N. [Auteur]
Zagonel, L.F. [Auteur]
Walls, Michael [Auteur]
Renault, O. [Auteur]
Titre de la revue :
Surface Science
Numéro :
604
Pagination :
1628-1636
Date de publication :
2010
Discipline(s) HAL :
Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Établissement(s) :
Université de Lille
CNRS
ENSCL
INRA
CNRS
ENSCL
INRA
Collections :
Équipe(s) de recherche :
Matériaux Terrestres et Planétaires
Date de dépôt :
2019-05-17T09:11:20Z
2024-02-06T09:32:20Z
2024-02-06T09:32:20Z