Titre :

Full field chemical imaging of buried native sub-oxide layers on doped silicon patterns

Auteur(s) :

de la Peña, Francisco [Auteur]
Barrett, N. [Auteur]
Zagonel, L.F. [Auteur]
Walls, Michael [Auteur]
Renault, O. [Auteur]

Titre de la revue :

Surface Science

Numéro :

604

Pagination :

1628-1636

Date de publication :

2010

Discipline(s) HAL :

Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]

Langue :

Anglais

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Établissement(s) :

Université de Lille
CNRS
ENSCL
INRA

Collections :

• Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207

Équipe(s) de recherche :

Matériaux Terrestres et Planétaires

Date de dépôt :

2019-05-17T09:11:20Z
2024-02-06T09:32:20Z