Titre :

Thickness effects on physical and electrical properties of Zn0.97Co0.02In0.01O thin films grown by magnetron sputtering RF

Auteur(s) :

Slimi, H. [Auteur]
Unité de recherches en bioclimatologie
Barhoumi, A. [Auteur]
Waldhoff, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Poupin, Christophe [Auteur]
SFR Condorcet
Unité de Chimie Environnementale et Interactions sur le Vivant [UCEIV]
Leroy, G. [Auteur]
Unité de Dynamique et Structure des Matériaux Moléculaires [UDSMM]
Guermazi, S. [Auteur]
Université de Sfax - University of Sfax
Cousin, Renaud [Auteur]
SFR Condorcet
Unité de Chimie Environnementale et Interactions sur le Vivant [UCEIV]
Duponchel, Benoit [Auteur]
Unité de Dynamique et Structure des Matériaux Moléculaires [UDSMM]

Titre de la revue :

Superlattices and Microstructures

Pagination :

670-689

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2018-08

ISSN :

0749-6036

Mot(s)-clé(s) en anglais :

RF magnetron sputtering
Raman spectroscopy
Optical constants
Resistivity electrical
Factor of merit

Discipline(s) HAL :

Chimie
Chimie/Catalyse

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL