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Design of coupled slow-wave CPW millimeter-wave bandpass filter beyond 100 GHz in 55-nm BiCMOS technology
IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 09-2021, 68; 9, 4259-4266Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Design of mm-wave slow-wave coupled coplanar waveguides
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, 68; 12, 5014-5028Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
ESD mm-wave-circuit protection: 3-dB couplers
IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2021, 68; 12, 5989-5994Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Highly tunable high-Q inversion-mode MOS varactor in the 1-325-GHz band
IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 06-2020, 67; 6, 2263-2269Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Investigating the potential of SiGe Diode in BiCMOS 55nm for power detection and datacom applications at 300 GHz
43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya, 09-09-2018, 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), IEEE, 2018Communication dans un congrès avec actestexte intégral -
Load-Pull Setup Development at 185 GHz for On-Wafer Characterization of SiGe HBT in BiCMOS 55 nm Technology
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 01-2022, 70; 1, pp 444-452Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Millimeter-wave noise source development on SiGe BiCMOS 55-nm technology for applications up to 260 GHz
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 09-2019, 67; 9, 3732-3742Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Miniaturization of Transmission Lines: Meandered Slow-wave CPWs
IEEE MTT-S International Conference on Microwaves for Intelligent Mobility (ICMIM 2020), Linz (virtual), 23-11-2020, 2020 IEEE MTT-S International Conference on Microwaves for Intelligent Mobility (ICMIM), IEEECommunication dans un congrès avec actestexte intégral -
Mm-wave single-pole double-throw switches: HBT-vs MOSFET-based designs
19th IEEE International New Circuits and Systems Conference, NEWCAS 2021, Toulon, 13-06-2021, 2021 19th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 06-2021Communication dans un congrès avec actestexte intégral -
Mm-wave through-load element for on-wafer measurement applications
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, IEEE, 2021, 68; 8, 3170-3183Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
mm-Wave Through-Load Switch for in-situ Vector Network Analyzer on a 55-nm BiCMOS Technology
18th IEEE International NEWCAS Conference (NEWCAS 2020), Montreal, 16-06-2020, 18th IEEE International NEWCAS Conference (NEWCAS 2020)Communication dans un congrès avec actestexte intégral -
Modeling and analysis of a broadband Schottky diode noise source up to 325 GHz based on 55-nm SiGe BiCMOS technology
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 06-2020, 68; 6, 2268-2277Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
On wafer millimetre wave power detection using a PN junction diode in BiCMOS 55 nm for in-situ large signal characterization
48th European Microwave Conference (EuMC), Madrid, 25-09-2018, 48th European Microwave Conference (EuMC), IEEE, 2018Communication dans un congrès avec actestexte intégral -
SiGe HBTs and BiCMOS technology for present and future millimeter-wave system
IEEE Journal of Microwaves, IEEE, 11-01-2021, 1, 288-298Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Tuner intégré large bande en gamme de fréquences millimétriques pour la caractérisation en technologie BiCMOS 55 nm
XXIIèmes Journées Nationales Microondes, Limoges, 07-06-2022, Tuner intégré large bande en gamme de fréquences millimétriques pour la caractérisation en technologie BiCMOS 55 nmCommunication dans un congrès avec actes