Overcoming Traditional Challenges in ...
Type de document :
Article dans une revue scientifique
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Titre :
Overcoming Traditional Challenges in Nano-scale X-ray Characterization Using Independent Component Analysis
Auteur(s) :
Rossouw, David [Auteur]
Burdet, Pierre [Auteur]
de la Pena, Francisco [Auteur]
Ducati, Caterina [Auteur]
Knappett, Benjamin R. [Auteur]
Wheatley, Andrew E. H. [Auteur]
Midgley, Paul A. [Auteur]
Burdet, Pierre [Auteur]
de la Pena, Francisco [Auteur]
Ducati, Caterina [Auteur]
Knappett, Benjamin R. [Auteur]
Wheatley, Andrew E. H. [Auteur]
Midgley, Paul A. [Auteur]
Titre de la revue :
Microscopy and Microanalysis
Nom court de la revue :
Microsc Microanal
Numéro :
21
Pagination :
1227-1228
Éditeur :
Oxford University Press (OUP)
Date de publication :
2015-08
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Établissement(s) :
Université de Lille
CNRS
INRAE
ENSCL
CNRS
INRAE
ENSCL
Collections :
Date de dépôt :
2024-02-01T14:10:27Z