Titre :

Mapping titanium and tin oxide phases using EELS: An application of independent component analysis

Auteur(s) :

de la Peña, Francisco [Auteur]
Berger, M.-H. [Auteur]
Hochepied, J.-F. [Auteur]
Dynys, F. [Auteur]
Stéphan, Odile [Auteur]
Walls, Michael [Auteur]

Titre de la revue :

Ultramicroscopy

Numéro :

111

Pagination :

169-176

Date de publication :

2011

Discipline(s) HAL :

Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]

Langue :

Anglais

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Établissement(s) :

Université de Lille
CNRS
ENSCL
INRA

Collections :

• Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207

Équipe(s) de recherche :

Matériaux Terrestres et Planétaires

Date de dépôt :

2019-05-17T09:11:18Z