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Piezoelectric properties of sputtered PZT films: influence of structure, microstructure, film thickness, (Zr,Ti) ratio and Nb substitution
European Materials Research Society Spring Meeting, Symposium P, Advanced Materials for Microelectronics : Ferroelectrics and Low-k Dielectrics, 2002, Materials Science in Semiconductor Processing, 5, Elsevier, 2002Communication dans un congrès avec actes -
Lamb wave and plate mode in ZnO/silicon and AlN/silicon membrane - Application to sensors able to operate in contact with liquid
Sensors and Actuators A: Physical, Elsevier, 2000, 87, 26-37Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
PbZr0.52Ti0.48O3 and SrBi2Nb2O9 ferroelectric oxides integrated with YBa2Cu3O7 superconductor in multilayers epitaxially grown by pulsed laser deposition
Journal de Physique IV Proceedings; International Conference on Thin Film Deposition of Oxide Multilayers Hybrid Structures, EDP Sciences, 2001, 11; PR11, 29-33Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
A bi-stable micro-machined piezoelectric transducer for mechanical to electrical energy
Integrated Ferroelectrics, Taylor & Francis, 2006, 80, 305-315Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Structural, micro structural and electrical properties comparison of PZT films deposited on different bottom electrodes
Integrated Ferroelectrics, Taylor & Francis, 2006, 80, 237-243Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Determination by nanoindentation method of sputtered PZT films mechanical parameters for Si-MEMS applications
Integr. Ferroelectrics, 2005, 69, pp. 213-221Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Actionneurs films minces pour contrôle santé de structures
Instrumentation, Mesure, Métrologie, Lavoisier, 2003, 3, 225-237Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Electrical characterization of PMNT thin films
2003, Ferroelectrics, 55, Gordon & Breach, The Netherlands, 2003Communication dans un congrès avec actes -
Pyroelectric characterization of hysteresis phenomena asymmetry in PZT film on silicon structures
Integrated Ferroelectrics, Taylor & Francis, 2005, 73, 27-35Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Ion beam etching of PZT thin films : influence of grain size on the damages induced
JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY, Elsevier, 2005, 25, 2269-2272Compte-rendu et recension critique d'ouvrage