Recherche
Résultats 11-20 de 252
-
Usinage de membranes diélectriques sur GaAs: applications aux structures coplanaires suspendues
Actes de la 3e Journée Nationale Microtechnologies, Lyon, 25 Mars 1996, 1996, 1996 -
Single Barrier Varactor for harmonic multiplication
1994, Proceeding of the International Seminar on Terahertz Electronic, Villeneuve d'Ascq (part II), june 13-14, 1994, IEMN, 1994Communication dans un congrès avec actes -
Microtechnologies des systèmes millimétriques et submillimétriques
Actes de la 2e Journée Nationale Microtechnologies, Villeneuve d'Ascq, 27 Mars 1995, 1995, 1995 -
High-resolution seismic prospecting of old gypsum mines. Evaluation of detection possibilites
European Journal of Environmental and Engineering, 1997, 2, 109-118Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Characterization of scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy-based techniques for nanolithography on hydrogen-passivated silicon
Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 15-08-1998, 84; 4, 1776-1781Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Short-channel effect immunity and current capability of sub-0.1-micron MOSFET's using a recessed channel
IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 08-1996, 43; 8, 1251-1255Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Extraction method of the base series resistances in bipolar transistor in presence of current crowding
IEEE Journal of Solid-State Circuits, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 02-1996, 31; 1, 132-135Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Adaptive mesh refinement for multilayer process simulation using the finite element method
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE, 13-03-1992, 11; 3, 396-403Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Nanometer scale lithography on silicon, titanium and PMMA resist using scanning probe microscopy
Solid-State Electronics, Elsevier, 06-1999, 43; 6, 1085-1089Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Anomalous voltage overshoot during turn-off of thin-film n-channel SOI MOSFETs
IEEE Electron Device Letters, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 04-1993, 14; 4, 164-166Compte-rendu et recension critique d'ouvrage